Технічний опис 8V182512IDGGREP Texas Instruments
Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device.
Інші пропозиції 8V182512IDGGREP
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
 |
8V182512IDGGREP | Виробник : Texas Instruments |
 Description: IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
товар відсутній |
|
| 8V182512IDGGREP | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device |
товар відсутній |