SN74BCT8374ADW Texas Instruments
на замовлення 25 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 25+ | 408.38 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8374ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC, Part Status: Active.
Інші пропозиції SN74BCT8374ADW за ціною від 384.91 грн до 821.21 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74BCT8374ADW | Виробник : Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOICPackaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC Part Status: Active |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74BCT8374ADW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop |
на замовлення 82 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74BCT8374ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 25 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|||||||||||||||||
| SN74BCT8374ADW |
|
на замовлення 25 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||||||||||||||||||
|
|
SN74BCT8374ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |
|||||||||||||||||
 |
SN74BCT8374ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device |
товар відсутній |